Основной контент книги Устойчивость и разрушение дефектных механических наноструктур
−10%
Текст PDF
Объем 99 страниц
2020 год
Устойчивость и разрушение дефектных механических наноструктур
Нет в продаже
О книге
В книге рассматриваются вопросы релаксации полупроводниковой пленки за счет энергии деформации. Учитывается одновременно изменение упругой энергии несоответствия, как за счет дислокационной перестройки, так и за счет механизма неоднородного распределения состава компонент пленки. Сформулированы системы уравнений описывающих процессы релаксации. Построены компьютерные модели пленки SiGe нанометровой толщины на Si подложке и SiGe островков нанометровых размеров на смачивающем слое, учитывающие влияние... Далее
Войдите, чтобы оценить книгу и оставить отзыв
Книга Андрея Александровича Бычкова «Устойчивость и разрушение дефектных механических наноструктур» — читать онлайн на сайте. Оставляйте комментарии и отзывы, голосуйте за понравившиеся.
Возрастное ограничение:
0+Дата выхода на Литрес:
30 ноября 2020Дата написания:
2020Объем:
99 стр. ISBN:
978-5-4365-6350-3Общий размер:
5.9 МБОбщее кол-во страниц:
99Правообладатель:
КноРус